Ux-700鍍層測厚儀

Ux-700鍍層測厚儀

Ux-700鍍層測厚儀本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量，Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設計，帶有聚焦光點的準直器，高分辨率的探測系統(tǒng)，眾多zui條件的選擇，保證測試結果的準確性。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，無損、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業(yè)中品質的提升有了檢驗的保障。
Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺，可以通過鼠標的點擊操作，選擇樣品的多點測試，特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。
Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設備，測試樣品的部位清楚明了，同時攝像設備拍抓測試部位的圖片，和測試數(shù)據(jù)結果一同出現(xiàn)在測試報告中。
Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
Ux-700鍍層測厚儀產品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數(shù)：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：149eV
高壓范圍：5-50Kv，50W
X光管參數(shù)：5-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：鍍層濾光片
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環(huán)境：非真空條件
數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式
準直器：Ø0.5mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區(qū)：開放工作區(qū) 自定義
樣品腔：70*20mm
整機重量：38kg

鍍層測厚方法：
1.磁性涂層測厚法
使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度，如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等，涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2.渦流層層測厚法
可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度，如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3.X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位：
微米（um），微英寸（u‘’）俗語“邁”，密耳（mil） 1um=39.4邁， 1um=0.04mil